Das MLD1200 V2.0-DS ist ein Offline-Dual-AOI-System für die gleichzeitige Prüfung von bestückten Leiterplatten von beiden Seiten.
Es verfügt über zwei Multi-LED-Leuchtbildscanner sowie unsere patentierten parallaxenfreien Objektive. Es umfasst modus Steuereinheiten mit der neuesten modus Software. Ein Trolley ist optional erhältlich.
Produkt-Merkmale
Duales System für die beidseitige, gleichzeitige Prüfung von Leiterplatten auf beiden Seiten.
Kombination verschiedener Inspektionsaufgaben wie SMD-Bestückung, THT-Lötstellen, konforme Beschichtung und vollständiges Screening auf Lotperlen (Lotkugeln).
Erfassen einer beliebigen Anzahl von Barcodes und Data-Matrix-Codes auf der Multi-Leiterplatte.
Zeigt das Testergebnis beider Seiten auf einmal an.